探針卡零組件 | 台灣精品獎-歷屆得獎名單
![探針卡零組件](https://i.imgur.com/DERULla.jpg)
探針卡(probecard)為晶圓測試時的重要測試介面,製程上包含多項先進製造技術。晶圓在未切割、IC封裝前須透過ProbeCard測試晶圓品質,以避免不良品封裝,是積體電路 ...
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Probe Card | 台灣精品獎-歷屆得獎名單
使用MEMS PROBE垂直型之SPRING TYPE探針卡. 了解更多. Cantilever Type Probe Card ... 適用於4邊配置有PAD的周邊排列型IC以及多數量檢測需求之探針卡. Read More
探針卡 | 台灣精品獎-歷屆得獎名單
探針卡(英語:Probe card)是晶圓與电子测试系统之間的媒介。探針卡通常直接放在探測器上並用接線連接測試機。它的目的是提供晶片與測試機之間的連結,並完成晶圓測試 ... Read More
探針卡接觸探針的觀察、量測 | 台灣精品獎-歷屆得獎名單
探針卡的主要種類 · 垂直(先進)式探針卡 · 懸臂式探針卡. Read More
探針卡零組件 | 台灣精品獎-歷屆得獎名單
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新型探針卡技術介紹 | 台灣精品獎-歷屆得獎名單
然隨著應用產品之不同,探針卡. 應用在IC測試領域者,可區分為Epoxy. Ring Probe Card、Vertical Probe Card及. MEMS Probe Card,其技術發展趨勢如. 圖三所示。下文將針對 ... Read More
晶圓測試探針卡設計與製造 | 台灣精品獎-歷屆得獎名單
2021年5月28日 — 垂直式探針卡(Vertical probe card)又名為Cobra 探針卡,其主要由三個部分Probe Card PCB、多層電路擴距板(電路轉接板)和測試頭(含探針)所組成。目前 ... Read More
晶圓級探針卡簡介 | 台灣精品獎-歷屆得獎名單
本文介紹一種以微機電技術(MEMS)為基礎製作「可含有力回饋高精度垂直式探針卡」 ... 密度、高精度的垂直式探針卡(Vertical Probe Card),使得高單價的精密探針卡 ... Read More
積體化探針卡技術介紹 | 台灣精品獎-歷屆得獎名單
探針卡(probe card)是應用在積體電路(IC)尚未封裝前,對裸晶以探針(probe)做功能測試,篩選出不良品、再進行之後的封裝工程。因此,是積體電路製造中對製造成本 ... Read More
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