應用筆記《ESD和EOS的原因、差異及預防》 | 台灣精品獎-歷屆得獎名單
![應用筆記《ESD和EOS的原因、差異及預防》](https://i.imgur.com/DERULla.jpg)
2018年7月15日—在半導體環境中,電過載(EOS)這一術語用於說明當電子器件承受的電流或電壓超出器件的規範限值時可能發生的一種現象。電過載可能會對整個器件或器件的 ...
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ESD和ESO是許多工程師非常關心的兩個問題。今日小編向您推薦中文應用筆記《ESD和EOS的原因、差異及預防》希望對您有所幫助。
簡介
在許多基於單片機的應用中,單片機都受到各類電磁噪聲的影響。電氣噪聲可能導致應用出現異常行爲。其中的兩種噪聲事件分別稱爲靜電放電(ElectrostaticDischarge,ESD)和電過載(Electrical Overstress,EOS)。本應用筆記討論了這兩種事件、導致這些事件的原因以及如何最大程度降低它們對應用的影響。
什麼是ESD?
靜電放電(ESD)是一種最常見的電磁兼容(ElectroMagneticCompliance,EMC)現象。術語“靜電”表示特定物質在與其他物質接觸(例如,用腳在羊毛地毯上摩擦)時累積的靜電荷。有時在觸摸金屬或汽車時會產生電火花,這就是靜電放電(ESD)現象。放電量取決於物質和環境(包括溼度)。ESD現象不僅僅發生在人與帶靜電物質接觸的情況下。機器和傢俱(例如,工作臺)也會累積靜電,並在與電氣元件接觸時發生放電。
什麼是EOS?
在半導體環境中,電過載(EOS)這一術語用於說明當電子器件承受的電流或電壓超出器件的規範限值時可能發生的一種現象。電過載可能會對整個器件或器件的一部分造成熱損壞。熱損壞是因發生EOS事件期間產生過多熱量而引起。當器件承受高電壓或高電流時,器件內的連接會發生電阻加熱,從而使溫度過高。通常,過多熱量處於施加電氣應力的區域周圍。這會導致器件損壞,並且大多數情況下,這種損壞肉眼可見。EOS可能因單次非重複性事件或者持續的週期或非週期事件而引起。EOS事件可以是瞬時事件(僅持續幾毫秒),在滿足條件的情況下也可以是持續事件。EOS能量耗盡後,器件可能永久損壞,也可能無法正常工作或者只有一部分可以正常工作。
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