乾貨!如何裝作很懂晶片測試... | 台灣精品獎-歷屆得獎名單
![乾貨!如何裝作很懂晶片測試...](https://i.imgur.com/DERULla.jpg)
2017年8月24日—FT:Finaltest,封裝完成後的測試,也是最接近實際使用情況的測試,會測到比CP更多的項目,處理器的不同頻率也是在這裡分出來的。
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2017年8月24日 — FT:Final test,封裝完成後的測試,也是最接近實際使用情況的測試,會測到比CP更多的項目,處理器的不同頻率也是在這裡分出來的。 Read More
芯片测试相关术语解释(CP、FT、WAT) | 台灣精品獎-歷屆得獎名單
2021年1月17日 — FT测试,英文全称Final Test,是芯片出厂前的最后一道拦截。 ... 测试开发工程师的职责: 测试开发工程师的主要工作内容是根据项目的特点来开发一些 ... Read More
半導體FT測試流程簡介 | 台灣精品獎-歷屆得獎名單
2009年10月13日 — 進行工程驗證指定項目的資料取得及和客戶資料比對的過程,我們通稱為”Correlation”。 Advantest M6571 Handler. 除了測試機台外,待測品要完成電性測試還 ... Read More
半導體廠商如何做晶元的出廠測試? | 台灣精品獎-歷屆得獎名單
而為了保證出廠的晶元都是沒問題的, final test也即FT測試是最後的一道攔截, 也是必須的 ... 測試必須按順序進行, 針對前列的測試結果, 後列的測試項目可能會被跳過. Read More
CP、FT、WAT各自的含義是什麼?快來get! | 台灣精品獎-歷屆得獎名單
2021年1月17日 — 應該說WAT的測試項和CP/FT是不同的。CP不是製造(FAB)測的! 而CP的項目是從屬於FT的(也就是說CP測的只會比FT ... Read More
IC講解: 如何區分CP測試和FT測試 | 台灣精品獎-歷屆得獎名單
2018年12月25日 — 所以本文將對於那些需要接觸測試但不是測試人員的人進行關於CP和FT的測試的講解。 按照國際慣例,首先需要再解釋一下什麼是CP和FT測試.CP是(Chip Probe) ... Read More
cp測試項目 | 台灣精品獎-歷屆得獎名單
cp測試項目,小弟目前再IC廠做測試因沒什麼CP經驗,事後發現CP與FT差異很大,和小弟... 因此不會有這樣的問題,大部分c/p項目,f/t都有,有些特殊項目會在c/p測, ... Read More
三溫測試分類機Model 3110 | 台灣精品獎-歷屆得獎名單
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