磊晶 檢測 | 台灣精品獎-歷屆得獎名單
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半導體設備材料,太陽能設備材料,光電材料設備,專業設備材料代理供應商,矽菱企業股份有限公司sellingware.,國家實驗研究院儀器科技研究中心攜手台灣LED磊晶龍頭晶元光電股份有限公司,以及先進半導體封裝設備商均華精密工業股份有限公司,共同開發本土「晶片瑕疵檢測設備」, ...,2020年2月3日—KLASurfscan無圖案晶圓檢測系統的Haze量測一直以來都是產線上主要用於磊晶沉積層晶體品質的非破壞性的檢測方法,但是,這種量測目前僅用於無圖案的晶 ...,2017年9月12日—第3部份是針對LED於磊晶段(Epi)、晶圓晶粒段(CoW)、固晶打線段...
光學檢測系統,光罩玻璃,矽,碳化矽,磊晶基板 | 台灣精品獎-歷屆得獎名單
半導體設備材料,太陽能設備材料,光電材料設備,專業設備材料代理供應商,矽菱企業股份有限公司sellingware. Read More
半導體檢測設備在地化時間與成本省下一半 | 台灣精品獎-歷屆得獎名單
國家實驗研究院儀器科技研究中心攜手台灣LED磊晶龍頭晶元光電股份有限公司,以及先進半導體封裝設備商均華精密工業股份有限公司,共同開發本土「晶片瑕疵檢測設備」, ... Read More
寬頻電漿光學測量結合機器學習磊晶圓圖案缺陷檢測更有效率 | 台灣精品獎-歷屆得獎名單
2020年2月3日 — KLA Surfscan無圖案晶圓檢測系統的Haze量測一直以來都是產線上主要用於磊晶沉積層晶體品質的非破壞性的檢測方法,但是,這種量測目前僅用於無圖案的晶 ... Read More
搶進LED磊晶檢測商機常鴻新推多款新設備 | 台灣精品獎-歷屆得獎名單
2017年9月12日 — 第3部份是針對LED於磊晶段(Epi)、晶圓晶粒段(CoW)、固晶打線段(DB/WB)的光學檢測設備。 另外,高性價比的晶圓切割後專用檢測設備,超高速檢測搭配 ... Read More
晶圓檢測系統Model 7940 | 台灣精品獎-歷屆得獎名單
Chroma 7940晶圓檢測系統為自動化切割後晶粒檢測設備,使用先進的打光技術,可以清楚的辨識晶粒的外觀 ... 磊晶缺陷Epi Defect; 崩缺Chipping; 晶粒殘留Chip Residue. Read More
看準台積電大幅採用EUV,科磊推電子束圖案化晶圓缺陷檢測 | 台灣精品獎-歷屆得獎名單
2020年7月21日 — 就在晶圓代工龍頭台積電已經進入5 奈米製程量產,並且大量採用極紫外光刻設備(EUV)的情況下,美商半導體設備商科磊(KLA)於21 日宣布,推出革命性 ... Read More
磊晶应用自动光学检测设备 | 台灣精品獎-歷屆得獎名單
从自动化关键零组件的单轴模组,传动元件,运动控制卡,软体研发,到自动化设备应用规划及研发客制,如产业机器人,机器手臂,PCB切割机,SMT制程设备,LED/半导体制程设备, ... Read More
磊晶應用自動光學檢測設備 | 台灣精品獎-歷屆得獎名單
Epi Series 檢測系統主要針對Epi 後表面缺陷檢測所設計,爲求于LED 前段制程之AOI 功能完整性,和椿率先推出磊晶缺陷檢測專用機,爲業界之首。 利用特殊影像處理技術,可 ... Read More
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104 年度台灣精品獎獲獎產品 高速自動光學檢測系統
由「和椿科技股份有限公司」生產的高速自動光學檢測系統獲得104年度台灣精品獎,以下為此獎項詳細資料整理:得獎產品:高速...