xps和eds的区别 | 台灣精品獎-歷屆得獎名單
![xps和eds的区别](https://i.imgur.com/DERULla.jpg)
X射线光电子能谱(XPS)是一种表面分析方法,提供的是样品表面的元素含量与形态,而不是样品整体的成分。其信息深度约为3-5nm。原则上可以测定元素周期表上除氢、氦以外的 ...
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原子吸收光谱(Atomic Absorption Spectrometry, AAS)
根据蒸气相中被测元素的基态原子对其原子共振辐射的吸收强度来测定试样中被测元素的含量;适合对纳米材料中痕量金属杂质离子进行定量测定,检测限低 ,ng/cm3,10-10—10-14g;测量准确度很高,1%(3—5%);选择性好,不需要进行分离检测;分析元素范围广,70多种。
应该是缺点(不确定):难熔性元素,稀土元素和非金属元素,不能同时进行多元素分析。
X-射线荧光光谱(X-ray fluorescence spectrometry, XFS)
是一种非破坏性的分析方法,可对固体样品直接测定。在纳米材料成分分析中具有较大的优点;X射线荧光光谱仪有两种基本类型波长色散型和能量色散型;具有较好的定性分析能力,可以分析原子序数大于3的所有元素。本低强度低,分析灵敏度高,其检测限达到10-5~10-9g/g(或g/cm3);可以测定几个纳米到几十微米的薄膜厚度。
X射线光电子能谱(X-ray Photoelectron Spectroscopy, XPS)
X射线光电子能谱(XPS )是一种表面分析方法,提供的是样品表面的元素含量与形态,而不是样品整体的成分。其信息深度约为3-5nm。
原则上可以测定元素周期表上除氢、氦以外的所有元素。
其主要功能及应用有三方面:第一,可提供物质表面几个原子层的元素定性、定量信息和化学状态信息;第二,可对非均相覆盖层进行深度分布分析,了解元素随深度分布的情况;第三,可对元素及其化学态进行成像,给出不同化学态的不同元素在表面的分布图像等。
俄歇电子能谱法(Auger electron spectroscopy,AES)
以表面元素定性分析、定量分析、表面化学结构分析等基本应用为基础,可以广泛应用于表面科学与工程领域的分析、研究工作 ;
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