積體化探針卡技術介紹:Probe card | 台灣精品獎-歷屆得獎名單
![積體化探針卡技術介紹:Probe card](https://i.imgur.com/DERULla.jpg)
探針卡(probecard)是應用在積體電路(IC)尚未封裝前,對裸晶以探針(probe)做功能測試,篩選出不良品、再進行之後的封裝工程。因此,是積體電路製造中對製造成本 ...
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探針卡 | 台灣精品獎-歷屆得獎名單
探針卡是測試機台與待測晶圓間相當重要的媒介工具,透過探針卡之探針(Probe)與晶圓上的銲墊(Pad)或凸塊(Bump)接觸後,將電性信號傳送到測試機台分析其功能與特性,判別 ... Read More
探針卡 | 台灣精品獎-歷屆得獎名單
探針卡(英語:Probe card)是晶圓與电子测试系统之間的媒介。探針卡通常直接放在探測器上並用接線連接測試機。它的目的是提供晶片與測試機之間的連結,並完成晶圓測試 ... Read More
探針卡接觸探針的觀察、量測 | 台灣精品獎-歷屆得獎名單
探針卡是在LSI製造的前製程中用於矽晶圓檢查製程的檢查器具,圓形的印刷電路板上裝備了一組經過精密組裝的探針接腳(探針)。 進行電氣測試時,會將這些配置於印刷電路板上 ... Read More
新型探針卡技術介紹 | 台灣精品獎-歷屆得獎名單
然隨著應用產品之不同,探針卡. 應用在IC測試領域者,可區分為Epoxy. Ring Probe Card、Vertical Probe Card及. MEMS Probe Card,其技術發展趨勢如. 圖三所示。下文將針對 ... Read More
積體化探針卡技術介紹:Probe card | 台灣精品獎-歷屆得獎名單
探針卡(probe card)是應用在積體電路(IC)尚未封裝前,對裸晶以探針(probe)做功能測試,篩選出不良品、再進行之後的封裝工程。因此,是積體電路製造中對製造成本 ... Read More
探針卡概念股發威!財報創高這3檔營運加分 | 台灣精品獎-歷屆得獎名單
2021年10月28日 — 他指出,相關概念股如旺矽(6223)今股價上漲近3%,預估股價會迅速突破130元,從均線糾結態勢觀察,建議投資人可逢低佈局,而中探針(6217)今開高 ... Read More
探針卡零組件 | 台灣精品獎-歷屆得獎名單
探針卡(probe card)為晶圓測試時的重要測試介面,製程上包含多項先進製造技術。晶圓在未切割、IC封裝前須透過Probe Card測試晶圓品質,以避免不良品封裝,是積體電路 ... Read More
垂直探針卡 | 台灣精品獎-歷屆得獎名單
京元電子已成功開發垂直探針卡(Vertical Probe Card) 且成功量產。不論是在微細間距(Fine Pitch) 及接腳數(Pin Count) 數,該先端技術皆能與目前市場上主流產品相 ... Read More
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104 年度台灣精品獎獲獎產品 探針卡檢測系統
由「源台精密科技股份有限公司」生產的探針卡檢測系統獲得104年度台灣精品獎,以下為此獎項詳細資料整理:得獎產品:探針卡...