IC測試基本原理與ATE測試向量生成 | 台灣精品獎-歷屆得獎名單
![IC測試基本原理與ATE測試向量生成](https://i.imgur.com/DERULla.jpg)
2014年10月7日—IC測試是指依據被測器件(DUT)特點和功能,給DUT提供測試激勵(X),通過測量DUT輸出響應(Y)與期望輸出做比較,從而判斷DUT是否符合格。圖1所示為IC測試的 ...
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2014年10月7日 — IC測試是指依據被測器件(DUT)特點和功能,給DUT提供測試激勵(X),通過測量DUT輸出響應(Y)與期望輸出做比較,從而判斷DUT是否符合格。圖1所示為IC測試的 ... Read More
電機資訊學院電子與光電學程 | 台灣精品獎-歷屆得獎名單
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IC測試原理解析(第一部分) | 台灣精品獎-歷屆得獎名單
2021年1月18日 — 直流測試是基於歐姆定律的用來確定器件電參數的穩態測試方法。比如,漏電流測試就是在輸入管腳施加電壓,這使輸入管腳與電源或地之間的電阻上有電流通過 ... Read More
IC测试基本原理与ATE测试向量生成 | 台灣精品獎-歷屆得獎名單
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